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新TOEICテスト一発で正解がわかる

キム・デギュン著 ; [正編], 基礎編. -- [旺文社], 2006. <BB00141851>
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キム・デギュン著 ; [正編], 基礎編. -- [旺文社], 2006. <BB00141851>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 [正編] 広国呉 広呉図書1F 830.79||K 30761271 帯出可 0件
No. 0001
巻号 [正編]
所蔵館 広国呉
配置場所 広呉図書1F
請求記号 830.79||K
資料ID 30761271
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 新TOEICテスト一発で正解がわかる / キム・デギュン著
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
出版・頒布事項 [東京] : [旺文社] , [2006.1]-
形態事項 冊 ; 21cm
巻号情報
巻次等 [正編]
ISBN 4010934905
巻号情報
巻次等 基礎編
ISBN 4010940816
その他の標題 異なりアクセスタイトル:新TOEICテスト一発で正解がわかる
シン トーイック テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
注記 出版事項はジャケットによる
注記 [正編]: 付属資料: (録音ディスク1枚 : ディジタル ; 12cm)
注記 基礎編: 付属資料: (録音ディスク2枚 : ディジタル ; 12cm)
注記 基礎編: 付: (別冊63p) : 解答・解説
学情ID BA75816192
本文言語コード 日本語 英語
著者標目リンク キム, デギュン||キム, デギュン <AU10088561>
件名標目等 英語||エイゴ
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