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JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著. -- CQ出版, 1998. -- (I/F essence). <BB00068168>
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JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著. -- CQ出版, 1998. -- (I/F essence). <BB00068168>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 広国呉 広呉図書1F 549.7||S 30161348 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 広国呉
配置場所 広呉図書1F
請求記号 549.7||S
資料ID 30161348
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 / 坂巻佳壽美著
JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ
出版・頒布事項 東京 : CQ出版 , 1998.12
形態事項 182p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4789836827
シリーズ名 I/F essence <BB99628149>//a
注記 参考文献: p180
学情ID BA39259718
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 坂巻, 佳寿美(1950-)||サカマキ, カズミ <AU10025212>
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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