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Photoinduced defects in semiconductors

David Redfield and Richard H. Bube. -- Cambridge University Press, 1996. -- (Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering ; 4). <TY12003182>
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David Redfield and Richard H. Bube. -- Cambridge University Press, 1996. -- (Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering ; 4). <TY12003182>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 広国一 広1図書 549.8||R 39814288 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 広国一
配置場所 広1図書
請求記号 549.8||R
資料ID 39814288
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 Photoinduced defects in semiconductors / David Redfield and Richard H. Bube
出版・頒布事項 Cambridge : Cambridge University Press , 1996
形態事項 x, 217 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0521461960
シリーズ名 Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering <BB00084887> 4//a
注記 Includes bibliographical references (p. 201-214) and index
学情ID BA27602347
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Redfield, David <AU11065894>
著者標目リンク Bube, Richard H., 1927- <AU11065895>
件名標目等 Semiconductors -- Defects
件名標目等 Photochemistry
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