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Electromigration and electronic device degradation

edited by Aris Christou ; : cloth : alk. paper. -- Wiley, 1994. <TY12001712>
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Electromigration and electronic device degradation

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 : cloth : alk. paper 広国一 広1図書 549.7||E 39811586 帯出可 0件
No. 0001
巻号 : cloth : alk. paper
所蔵館 広国一
配置場所 広1図書
請求記号 549.7||E
資料ID 39811586
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 Electromigration and electronic device degradation / edited by Aris Christou
出版・頒布事項 New York : Wiley , c1994
形態事項 xiv, 343 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 : cloth : alk. paper
ISBN 0471584894
その他の標題 背表紙タイトル:Electromigration & electronic device degradation
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA22413336
本文言語コード 英語
著者標目リンク Christou, Aris <AU11064364>
件名標目等 Integrated circuits -- Deterioration
件名標目等 Semiconductors -- Failures
件名標目等 Electrodiffusion
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