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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Ludwig Reimer ; : N.Y., : Berlin. -- Springer-Verlag, 1985. -- (Springer series in optical sciences ; v. 45). <TY14004049>
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Ludwig Reimer ; : N.Y., : Berlin. -- Springer-Verlag, 1985. -- (Springer series in optical sciences ; v. 45). <TY14004049>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 : Berlin 広国一 広1図書 549.97||S 39814766 帯出可 0件
No. 0001
巻号 : Berlin
所蔵館 広国一
配置場所 広1図書
請求記号 549.97||S
資料ID 39814766
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者 Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1985
形態事項 xviii, 457 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 : N.Y.
ISBN 0387135308
巻号情報
巻次等 : Berlin
ISBN 3540135308
シリーズ名 Springer series in optical sciences <BB99362727> v. 45//a
注記 Bibliography: p. [405]-446
注記 Includes index
学情ID BA00063343
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Reimer, Ludwig, 1928- <AU11064588>
件名標目等 Scanning electron microscope
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